Pagina 1 van 7 Onderwerp Vergadering Datum, 10.30 uur Plaats Hielkema Testequipment, Uden Auteur Ronnie van Leeuwen Tel. 040 2503 714 e-mail: ron.vanleeuwen@nl.thalesgroup.nl PRESENTIELIJST Naam Bedrijf Aanwezig? Louis Huysmans Philips Display Components Erik Goossens Philips Medical Systems X Theo Hesen Philips Medical Systems X Frans Assink Thales Nederland Jan de Groot Klima Testtechniek X Wilco van Dalen SKF Simon Bakker Maser Engineering b.v. Ronnie van Leeuwen Thales Cryogenics b.v. X Dop Jooren Tyco Electronics AMP Henk Mast Dutch Space Erik Wegkamp Nationaal Lucht- en Ruimtevaartlaboratorium Ton Geise j.j. Bos b.v X Dave Corben Philips Applied Technologies X Aad Engelfriet Philips Applied Technologies X Sebastiaan Wolbers TNO BOUW afdeling CMC Jan Bakker Texas Instruments X Marco Olierook Texas Instruments X Wim de Krey DEP Roden Jan Hopman TNO-TPD Klaas Kloosterman Philips Drachten
Pagina 2 van 7 1 Opening, mededelingen Ton Geise opent de vergadering en heet iedereen welkom. De agenda wordt doorgenomen. Er zijn geen mededelingen vanuit de werkgroep. 2 Verslag voorgaande vergadering (30 maart 2005) Het verslag wordt goedgekeurd. De actielijst van het vorige verslag wordt doorgelopen: Ton Geise zal de acties 2005-01 (het rondsturen van de draft van de IEC 60068-2-47 Mounting of specimens) en 2005-03 (het rondsturen van een verhaal over decaying sinusoïd bij het uitvoeren van schoktesten) uitvoeren. Het verhaal over decaying sinusoid bij schoktesten is afkomstig van Dave Richards van het CEEES. Voorheen werden schoktesten uitgevoerd op valtafels maar er worden nu meer en meer schoktesten met behulp van shakers uitgevoerd. Er is een discussie gaande over het toepassen van een aflopende sinus bij de uitvoering van deze laatste categorie schoktesten (op een shaker). De actiepunten 2005-02, 2005-03 (2) en 2005-04 zijn afgerond. Punt 2005-05 (Louis Huysmans benaderen voor een presentatie over contactloos meten) wordt door Ton Geise uitgevoerd. Zie ook het onderwerp voor de volgende bijeenkomst. 3 Omgevingstesten voor beginners (OTB s) In de werkgroep reliability is een lijst opgesteld met thema s voor nieuwe te ontwikkelen OTB s: Salt mist Thermal shock High/low temperature Climate IP-dust Hast Corrosion Deze OTB s zijn gepland voor de komende 2 jaren. Er ontstaat een discussie over de vraag waar het vakgebied EMC thuis hoort. Er is in Nederland een aparte EMC vereniging. EMC hoort bij het PLOT maar er is geen specifieke aandacht voor. Gekozen kan worden om een OTB voor EMC te maken met verwijzingen naar bedrijven die meer weten over dit vakgebied. Ook kan volstaan worden met een verwijzing op de PLOT site naar de aparte EMC club. Verder wordt gediscussieerd over mogelijk nieuwe onderwerpen voor OTB s op het mechanische gebied: - overload testen (duwen / trekken), bij Medical Systems heeft men zelf een testbank gebouwd mbv hydraulische cylinders. - Droptesten - Combinatie temperatuur / triltesten. Ronnie van Leeuwen zal een opzet maken voor deze OTB. Jan Bakker stelt dat de ervaringsuitwisseling binnen de werkgroep voor hem de belangrijkste reden is om de werkgroep bijeenkomsten bij te wonen. Hij toont zijn bezorgdheid over het voortbestaan van de werkgroep door de geringe opkomst en de relatief grote aandacht voor
Pagina 3 van 7 de OTB s. Ton Geise geeft aan dat de ervaringsuitwisseling inderdaad het belangrijkste item is en zal blijven. De ervaringsuitwisseling is nu ook expliciet op de agenda gezet. Erik Goossens en Theo Hesen laten weten dat zij, als relatieve nieuwkomers in het vakgebied, vooral op zoek zijn naar kennisuitwisseling met meer ervaren collega s. Erik en Theo gaan een cursus volgen in Karlsruhe van Wayne Tustin. Dave Corben heeft deze cursus reeds gevolgd en heeft goede ervaringen met deze praktisch ingestelde cursus. Ton Geise gaat proberen om deze cursus naar Nederland te halen via j.j. Bos. Ton vraagt wat een dergelijke cursus mag kosten? Nu is de prijs ± 2000 euro voor 4 dagen. 4 Presentatie Marco Olierook (Texas Instruments) Bij Texas Instruments kwamen sensoren terug uit het veld met beschadigingen die men niet eerder had gezien. Metingen in het veld lieten resonanties zien die ver boven de aangeboden 60068-2 norm lagen. De pomp met de sensoren werd opgestuurd en men heeft testen op de shaker uitgevoerd. Er werd een sinus test uitgevoerd: 100 500 Hz met 10g. Er werden resonantiemetingen uitgevoerd. Op de pomp waren geen leidingen aangesloten (is niet de praktijksituatie). Met behulp van een langdurige sweep in het resonantiegebied werd een simulatie van 80.000 km uitgevoerd. De sensoren vertoonden niet het faalmechanisme wat in het veld werd waargenomen. Achteraf bleek dat de sensor in de praktijk op een andere plek werd gemonteerd. In de praktijk ondervindt de sensor de trillingen + het effect van het lopen van de pomp. Deze combinatie is niet getest. Er is dus een verschil tussen een statische pomp en een dynamische (lopende) pomp. Een motor met een sensor is getest op de shaker. De sensor krijgt hoge versnellingen voor de kiezen (resonantie pieken). Er werd 10g aangeboden en er werden pieken tot 130g gemeten. De sensoren gingen stuk. De motor is getest zonder kabelaansluitingen (niet conform de praktijksituatie). Met aangesloten kabels zijn de pieken weg; de kabels dempen. Bij het bepalen van de resonantiefrequentie van een EMA module bleek de massa van de versnellingsopnemer te groot om betrouwbare metingen te kunnen uitvoeren. Opties voor resonantiemetingen: - laser vibrometers (ervaringen aanwezig bij Erik Wegkamp / NLR) - stroboscoop - standaard laser De belangrijkste les die men de afgelopen tijd geleerd heeft is: altijd testen met aangesloten connectoren en kabels. 5 Ervaringsuitwisseling Bij Philips Medical Systems moet men voor testen van grote systemen uitwijken naar TNO in Delft waar men gebruik maakt van een hydraulische shaker. Bij Texas Instruments wil men ervaring opdoen met contactloos meten bij triltesten (zie presentatie Marco Olierook). Diverse bedrijven zijn op zoek naar manieren om versneld te kunnen testen. Bij het CEEES is een verhaal verschenen over versneld testen. Dit verhaal zal binnenkort verschijnen op de website van het CEEES (ceees.org). Bij het versneld testen is het belangrijk om de fysieke grenzen goed in de gaten te houden. Bij Thales Cryogenics heet men een langdurige sinus triltest van 2g teruggebracht naar een korte sinus triltest van 3g door te kijken naar het aantal producten dat faalde bij de 2g test en dit te vergelijken met de benodigde tijd om dit te bereiken met een 3g test. De faalmechanismen waren bij beide testen gelijk en men heeft de test met 20 producten uitgevoerd.
Pagina 4 van 7 Bij Texas Instruments vragen klanten verschillende testspecificaties voor producten die in dezelfde applicatie gebruikt worden. Komt dit door onwetendheid of focust men op de problemen? Bij Philips Medical Systems heeft men interne normen afgeleid van de IEC normen. Er bestaan drie niveaus bij deze interne normen: M1 specificatie M2 specificatie (voor mobiele apparatuur) M3 specificatie (voor handheld apparatuur) De trend is: minder testen en minder waar testen en een snelle release van producten. Producten die ingebouwd worden in een hogere samenstelling moeten vaak los te zwaar getest worden. De relatie tussen hetgeen getest moet worden en wat het product in de hogere samenstelling aan mechanische belasting voor de kiezen gaat krijgen is vaak moeilijk aan te geven. Binnen diverse normen over droptesten worden verschillende ondergronden beschreven. De IEC norm beschrijft een houten vloer als ondergrond voor een droptest. Dit is afkomstig uit de Verenigde Staten waar buiten de steden veel huizen van hout gemaakt zijn. Bij Texas Instruments heeft men de ervaring dat zelfs de verflaag op beton van invloed kan zijn op het resultaat van een droptest. 6 Vaststelling onderwerpen volgende vergadering De volgende PLOT bijeenkomst is het PLOT seminar. Besloten wordt om de werkgroep mechanische beproevingen niet op dezelfde dag bijeen te laten komen. Volgende vergadering: 21 september 14:00h bij LG.Philips of eventueel bij Philips Applied Technologies. Verder zal Louis Huysmans gevraagd worden om zijn ervaringen met contactloos meten bij triltesten te presenteren. Dit kan eventueel gecombineerd worden met een presentatie van een leverancier van meetapparatuur. Voor de daarop volgende vergadering kan Henk Mast een presentatie verzorgen. Eventueel kan Aad Engelfriet iets vertellen over het gebruik van event detectoren tijdens mechanische testen. 7 Rondvraag en sluiting Dave Corben vraagt naar wie er nog ideeën heeft voor sprekers voor het PLOT seminar Automotive / Handheld testen. Ton Geise bedankt iedereen voor de komst en inbreng in de vergadering en sluit de bijeenkomst.
Pagina 5 van 7 Actielijst na de vergadering Nummer Door Actie Streefdatum 2004-01 Louis Huysmans Presentatie over Six Sigma 2004-02 Aad van Dorp Uitzoeken of boutjes bij 30 g / 18 ms minder snel afbreken 2004-03 Aad van Dorp Overdragen secretariaatsstukken. 2004-04 Raymond Peutz Initiatief voor projectvoorstel voor Senter vervalt 2004-05 Ton Geise Aanzet voor een overzicht van tril- en schoktechnieken 2004-06 Ton Geise Commentaar overzicht tril- en schoktechnieken uitwerken 2004-07 Dave Corben Voordracht voorbereiden: Omzetten praktijkdata naar testspecificatie 2004-08 Marco Olierook Voordracht voorbereiden: Problemen uit het veld (klant test in groter systeem) 2005-01 Ton Geise Verspreiden van draft IEC 60068-2-47 01-07-05 2005-02 Ronnie van Leeuwen Verspreiden van de rapportage CEN werkgroep handboek Standardization for Defense Procurement 2005-03 Ton Geise Verspreiden van verhaal: Decaying sinusoïd bij schoktesten 01-07-05 2005-03 (2) 2005-04 Ton Geise Ronnie van Leeuwen Overzicht tril- en schoktechnieken aanvullen met constante versnelling Overzicht tril- en schoktechnieken verspreiden onder PLOT leden tbv commentaar + plaatsing op de website 2005-05 Ton Geise Navraag bij Louis Huysmans presentatie contactloos meten 01-09-05 2005-06 Ronnie van Leeuwen Opzet voor OTB combinatie temperatuur / tril testen 21-09-05
Pagina 6 van 7 Appendix A Lijst van geïdentificeerde aandachtspunten Trefwoord(en) Vraagstelling Prio Testtechnieken (Shock Response Synthesis/Spectrum): simulatie aardbevingen: uitgaande van de werkelijke versnellingen SRS bij een aarbevingen het samenstellen van een "gelijkwaardig" spectrum dat wel op een shaker kan worden nagedaan (is al eens behandeld). 3 Technieken Verschillende tril- en schoktechnieken voor verschillende omgevingen 8 Decompositie Hoe werkt een trillingsbron door naar de lokatie waar een product zich bevindt (decompositie) 3 HALT / HASS Numeriek Versneld mechanische beproeven: HALT: Belasten van een product totdat het defect raakt. Dit gebeurt stapsgewijs, en levert informatie tijdens het ontwerpproces. HASS: Een test die voor producten die van de productlijn afkomen snel onderscheid kan maken tussen goed geproduceerde producten en producten met (latente) defecten. Numerieke technieken bij mechanische testen Meerassig testen Single versus multiaxis testen. 4 Vermoeiing Vermoeiingsonderzoek versus overbelasting 4 Functietest Monitoren van functioneren van apparatuur tijdens duurtesten 4 Voorlichting Het uitleggen van technische onderwerpen t.b.v. minder deskundige mensen 03-12-03 Ontwerpintegratie Omgevingseisen Algemene ontwerpeisen omwerken naar product(ie)criteria 27-10-00 Requirement analyse Volledig maken van ontwerpeisen (requirements analysis) 27-10-00 Ontwerpproces Behandeling mechanische omgevingsomstandigheden in verschillende sectoren 27-10-00 Theorie Realiteitsgehalte Klopt de testeis met de praktijk? 10-03-04 03-06-04 Levensduur Voorspellen van productlevensduur 5 Trillingen Inleven in de wereld van trillingen, transport mechanische energie, hoe moet je jezelf e.e.a. voorstellen? Life Cycle Analysis Life Cycle Analyse: stress opvoeren, correlatie verschillende testresultaten, gebruik statistiek 2 Marktgegevens Hoe kun je marktgegevens gebruiken voor ontwerpcriteria en testeisen. 1 Reliability Analysis Nut van testen Prototypes Hoeveel samples moeten worden getest om welke uitspraken met welke betrouwbaarheid te kunnen doen. Welke mogelijkheden zijn er om hierop invloed uit te oefenen? Bewustwording problemen die verholpen kunnen worden met mechanische beproevingen. Wat is de meest relevante test voor mijn probleem. Veldresultaten Prototype (0-series) in het veld Gebruikscondities Gebruikcondities bepalen, analyseren, historie, veranderingen 9 Meettechnieken Meettechnieken Meettechnieken, versnellingsopnemers (laser), optische technieken 21-09-05 8 3 6 4 Rainflow Rainflow technieken Optische technieken Optische technieken (grid projectie) 4 Normen Normen Overzicht en toepassen van normen 16 Aanvullende onderwerpen
Pagina 7 van 7 Appendix B Lijst met leden WGMB Naam Bedrijf Telefoon Fax E-mail Louis Huysmans Philips Display Components 040 278 45 81 040 278 48 88 louis.huysmans@lgphilips-displays.com Frans Assink Thales Nederland 074 248 22 41 074 248 40 37 frans.assink@nl.thalesgroup.com Jan de Groot Klima Testtechniek 033 432 04 25 033 432 05 40 info@klima-testtechniek.nl Wilco van Dalen SKF 030 607 57 74 030 604 38 12 wilco.van.dalen@skf.com Simon Bakker Maser Engineering b.v. 053 480 26 90 053 480 26 70 simon.bakker@maser.nl Ronnie van Leeuwen Thales Cryogenics b.v. 040 250 37 14 040 250 37 77 ron.vanleeuwen@nl.thalesgroup.com Dop Jooren Tyco Electronics AMP 073 624 64 59 073 624 69 14 d.jooren@tycoelectronics.com Henk Mast Dutch Space 071 524 54 47 071 524 53 15 h.mast@dutchspace.nl Erik Wegkamp Nationaal Lucht- en Ruimtevaartlaboratorium 0527 24 84 64 0527 24 82 10 wegkamp@nlr.nl Ton Geise j.j. Bos b.v 0182 61 93 33 0182 61 17 70 tong@jjbosbv.nl Dave Corben Philips Applied Technologies 040 273 50 14 040 273 32 01 d.corben@philips.com Aad Engelfriet Philips Applied Technologies 040 273 35 41 040 273 68 15 a.r.c.engelfriet@philips.com Sebastiaan Wolbers TNO BOUW afdeling CMC 015 276 3386 015 276 3028 s.wolbers@bouw.tno.nl Klaas Kloosterman Philips Drachten 0512 593 280 k.kloosterman@philips.com Marco Olierook Texas Instruments 0546 879 380 0546 879 349 m-olierook@ti.com Jan Bakker Texas Instruments 0546 879 277 j-bakker@ti.com Erik Goossens Philips Medical Systems 040 276 90 44 Erik.goossens@philips.com Theo Hesen Philips Medical Systems 040-2762331 040-2762760 theo.hesen@philips.com Wim de Krey DEP Roden 050 501 88 08 wdekreij@dep.nl