van Thales Nederland B.V. Zuidelijke Havenweg 40 7554 RR Hengelo OV Nederland Locatie waar activiteiten onder accreditatie worden uitgevoerd Hoofdkantoor EMC testen 1. Elektronische en/of elektrische apparaten Geleidende emissiemeting op voedingskabels, 30 Hz- 10 khz 9501 027 905xx conform MIL-STD 461 CE 101 2. Geleidende emissiemeting op voedingsleidingen, 10 khz- 10 MHz 3. Geleidende immuniteitsmeting op voedingsleidingen, 30 Hz- 150 khz 4. Geleidende immuniteitsmeting op alle kabels, BCI 10 khz- 200 MHz 5. Geleidende immuniteitsmeting op alle kabels, impulse excitation 6. Geleidende immuniteitsmeting op alle kabels, damped sine- 10 khz- 100 MHz 7. Stralende emissiemeting, H-veld 30 Hz- 100 khz 8. Stralende emissiemeting, E-veld 10 khz- 18 GHz 9501 027 906xx conform MIL-STD 461 CE 102 9501 027 910xx conform MIL-STD 461 CS 101 9501 027 911xx conform MIL-STD 461 CS 114 9501 027 912xx conform MIL-STD 461 CS 115 9501 027 913xx conform MIL-STD 461 CS 116 9501 027 907xx conform MIL-STD 461 RE 101 9501 027 908xx conform MIL-STD 461 RE 102 Deze bijlage is goedgekeurd door: Ir. J.C. van der Poel Algemeen Directeur Raad voor Accreditatie Pagina 1 van 5
9. Elektronische en/of elektrische apparaten Stralende immuniteitsmeting, H-veld 30 Hz- 100 khz 9501 027 914xx conform MIL-STD 461 RS 101 10. Stralende immuniteitsmeting, E-veld 2 MHz - 18 GHz 9501 027 915xx conform MIL-STD 461 RS 103 11. ESD Immuniteitstest < 15 kv 9501 120 445xx conform EN 61000-4-2 12. Stralende immuniteitsmeting, E-veld 80 MHz-6 GHz 13. Geleidende immuniteitsmeting op voedingsen verbindingsleidingen, transienten/burst tot 32A max. 14. Geleidende immuniteitsmeting op voedingsen verbindingsleidingen,surge 9501 120 446xx conform EN 61000-4-3 9501 120 447xx conform EN 61000-4-4 9501 120 448xx conform EN 61000-4-5 15. Geleidende immuniteitsmeting op voedingsen verbindingsleidingen, CW 150 khz-80 MHz 9501 120 449xx conform EN 61000-4-6 16. Stralende immuniteitsmeting, H-veld, Power frequency 17. Geleidende emissie meting op voedingsaansluiting, harmonische stromen 18. Geleidende emissie meting op voedingsaansluiting, spanningsvariaties en flikker 19. Geleidende immuniteitsmeting op voedingsaansluiting, spanningsvariaties en -onderbrekingen 20. Geleidende emissiemeting op voedingsleidingen, 150 khz-30 MHz 21. Stralende emissiemeting, E-veld 30 MHz- 1 GHz 22. Geleidende emissiemeting op voedingsleidingen, 150 khz- 30 MHz 23. Stralende emissiemeting, E-veld 30 MHz- 1 GHz, class B 9505 302 956xx conform EN 61000-4-8 9501 120 455xx conform EN 61000-3-2 9501 120 456xx conform EN 61000-3-3 9501 120 450xx conform EN 61000-4-11 9501 120 451xx conform EN 55011 9501 120 452xx conform EN 55011 9501 120 453xx conform EN 55022 9501 120 454xx conform EN 55022,class B Raad voor Accreditatie Pagina 2 van 5
Schok en Tril proeven 24. Elektronische en/of apparatuur (testobject) Blootstellen van een testobject aan conform MIL-STD-810E conform MIL-STD-810G method 514 25. Blootstellen van een testobject aan 26. Blootstellen van een testobject aan 27. Blootstellen van een testobject aan 28. Blootstellen van een testobject aan methode 204D conform IEC 68 IEC 60068, Publication 2-6 (DNV 2002, GL-2003, LR Type approval syst. 2002 ETSI EN 300 019-2-4 IACS E10, IEC 721) conform MIL-STD-167-1, type 1 conform MIL-STD-167-1A, type 1 conform IEC 945 IEC 60945 Raad voor Accreditatie Pagina 3 van 5
29. Elektronische en/of apparatuur (testobject) Blootstellen van een testobject aan omstandigheden: Random vibratie. conform MIL-STD-202F methode 214A methode 214A 30. Blootstellen van een testobject aan omstandigheden: Random vibratie. 31. Blootstellen van een testobject aan 32. Blootstellen van een testobject aan 33. Blootstellen van een testobject aan 34. Blootstellen van een testobject aan conform IEC 68 IEC 60068, Publication 2-64 (DNV 2002) conform MIL-STD-810 Method 516 methode 213B conform IEC 68 IEC 60068 Publication 2-27 Shock test conform IEC 721 Publication 3-1, 3-2, 3-3, 3-4, 3-5. Klimaat- en temperatuurtesten 35. Elektronische en/of apparatuur Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled low temperature 36. Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled high temperature 37. Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled temperature and humidity 38. Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled temperature and solar radiation conform IEC-60068-2-1 / MIL-STD-810G Methode 502 conform IEC-60068-2-2 / MIL-STD-810G Methode 501 conform IEC-60068-2-3 / IEC-60068-2-56 / IEC-60068-2-67 / IEC-60068-2-78 / MIL-STD-810 Methode 507 conform IEC-60068-2-5 / MIL-STD-810 Methode 505 Raad voor Accreditatie Pagina 4 van 5
39. Elektronische en/of apparatuur Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled alternating temperature 40. Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled alternating temperature and alternating humidity conform IEC-60068-2-14 conform IEC-60068-2-30 / IEC-60068-2-38 Raad voor Accreditatie Pagina 5 van 5