Deze bijlage is geldig van: tot Vervangt bijlage d.d.:

Transcriptie

1 van Thales Nederland B.V. Zuidelijke Havenweg RR Hengelo OV Nederland Locatie waar activiteiten onder accreditatie worden uitgevoerd Hoofdkantoor EMC testen 1. Elektronische en/of elektrische apparaten Geleidende emissiemeting op voedingskabels, 30 Hz- 10 khz xx conform MIL-STD 461 CE Geleidende emissiemeting op voedingsleidingen, 10 khz- 10 MHz 3. Geleidende immuniteitsmeting op voedingsleidingen, 30 Hz- 150 khz 4. Geleidende immuniteitsmeting op alle kabels, BCI 10 khz- 200 MHz 5. Geleidende immuniteitsmeting op alle kabels, impulse excitation 6. Geleidende immuniteitsmeting op alle kabels, damped sine- 10 khz- 100 MHz 7. Stralende emissiemeting, H-veld 30 Hz- 100 khz 8. Stralende emissiemeting, E-veld 10 khz- 18 GHz xx conform MIL-STD 461 CE xx conform MIL-STD 461 CS xx conform MIL-STD 461 CS xx conform MIL-STD 461 CS xx conform MIL-STD 461 CS xx conform MIL-STD 461 RE xx conform MIL-STD 461 RE 102 Deze bijlage is goedgekeurd door: Ir. J.C. van der Poel Algemeen Directeur Raad voor Accreditatie Pagina 1 van 5

2 9. Elektronische en/of elektrische apparaten Stralende immuniteitsmeting, H-veld 30 Hz- 100 khz xx conform MIL-STD 461 RS Stralende immuniteitsmeting, E-veld 2 MHz - 18 GHz xx conform MIL-STD 461 RS ESD Immuniteitstest < 15 kv xx conform EN Stralende immuniteitsmeting, E-veld 80 MHz-6 GHz 13. Geleidende immuniteitsmeting op voedingsen verbindingsleidingen, transienten/burst tot 32A max. 14. Geleidende immuniteitsmeting op voedingsen verbindingsleidingen,surge xx conform EN xx conform EN xx conform EN Geleidende immuniteitsmeting op voedingsen verbindingsleidingen, CW 150 khz-80 MHz xx conform EN Stralende immuniteitsmeting, H-veld, Power frequency 17. Geleidende emissie meting op voedingsaansluiting, harmonische stromen 18. Geleidende emissie meting op voedingsaansluiting, spanningsvariaties en flikker 19. Geleidende immuniteitsmeting op voedingsaansluiting, spanningsvariaties en -onderbrekingen 20. Geleidende emissiemeting op voedingsleidingen, 150 khz-30 MHz 21. Stralende emissiemeting, E-veld 30 MHz- 1 GHz 22. Geleidende emissiemeting op voedingsleidingen, 150 khz- 30 MHz 23. Stralende emissiemeting, E-veld 30 MHz- 1 GHz, class B xx conform EN xx conform EN xx conform EN xx conform EN xx conform EN xx conform EN xx conform EN xx conform EN 55022,class B Raad voor Accreditatie Pagina 2 van 5

3 Schok en Tril proeven 24. Elektronische en/of apparatuur (testobject) Blootstellen van een testobject aan conform MIL-STD-810E conform MIL-STD-810G method Blootstellen van een testobject aan 26. Blootstellen van een testobject aan 27. Blootstellen van een testobject aan 28. Blootstellen van een testobject aan methode 204D conform IEC 68 IEC 60068, Publication 2-6 (DNV 2002, GL-2003, LR Type approval syst ETSI EN IACS E10, IEC 721) conform MIL-STD-167-1, type 1 conform MIL-STD-167-1A, type 1 conform IEC 945 IEC Raad voor Accreditatie Pagina 3 van 5

4 29. Elektronische en/of apparatuur (testobject) Blootstellen van een testobject aan omstandigheden: Random vibratie. conform MIL-STD-202F methode 214A methode 214A 30. Blootstellen van een testobject aan omstandigheden: Random vibratie. 31. Blootstellen van een testobject aan 32. Blootstellen van een testobject aan 33. Blootstellen van een testobject aan 34. Blootstellen van een testobject aan conform IEC 68 IEC 60068, Publication 2-64 (DNV 2002) conform MIL-STD-810 Method 516 methode 213B conform IEC 68 IEC Publication 2-27 Shock test conform IEC 721 Publication 3-1, 3-2, 3-3, 3-4, 3-5. Klimaat- en temperatuurtesten 35. Elektronische en/of apparatuur Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled low temperature 36. Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled high temperature 37. Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled temperature and humidity 38. Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled temperature and solar radiation conform IEC / MIL-STD-810G Methode 502 conform IEC / MIL-STD-810G Methode 501 conform IEC / IEC / IEC / IEC / MIL-STD-810 Methode 507 conform IEC / MIL-STD-810 Methode 505 Raad voor Accreditatie Pagina 4 van 5

5 39. Elektronische en/of apparatuur Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled alternating temperature 40. Exposure of (non) heat-dissipating specimens to calibrated and controlled alternating temperature and alternating humidity conform IEC conform IEC / IEC Raad voor Accreditatie Pagina 5 van 5